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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan, Fachbücher von Adam Osseiran
Das Buch "Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan" bietet eine umfassende Analyse und Erweiterung des IEEE Standards 1149.4, der für die Testbarkeit von gemischten analogen und digitalen Schaltungen von Bedeutung ist. Herausgegeben von Adam Osseiran, enthält es nicht nur den Standard selbst, sondern auch die Perspektiven und Überlegungen der Entwickler, die an der Entstehung des Standards beteiligt waren. Die Beiträge von Experten wie Brian Wilkins, Colin Maunder und anderen bieten einen tiefen Einblick in die Herausforderungen und Lösungen im Bereich der Testbarkeit von Systemen. Das Buch ist so strukturiert, dass es die Vielfalt der Ausdrucksweisen der Autoren bewahrt, was dem Leser eine abwechslungsreiche Lektüre ermöglicht. Es wird betont, dass die Testbarkeit eines Systems nicht nur von den einzelnen Komponenten abhängt, sondern auch von der Art und Weise, wie diese Komponenten organisiert sind. Dies macht das Buch zu einer wertvollen Ressource für Fachleute, die sich mit der Entwicklung und dem Testen von gemischten Signalarchitekturen beschäftigen.
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Springer Analog/RF and Mixed-Signal Circuit Syst (Englisch, Hardcover, Esteban Tlelo-Cuautle, Mourad Fakhfakh, Rafael Castro-Lopez) (9783642363283)Springer Analog/RF and Mixed-Signal Circuit Syst (Englisch, Hardcover, Esteban Tlelo-Cuautle, Mourad Fakhfakh, Rafael Castro-Lopez) (9783642363283)160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
Springer Analog and Mixed-Signal Hardware Description Language (Englisch, Softcover, A. Vachoux, Jacques Rouillard, Jean-Michel Bergé, oz, Oz Levia) (55520850)
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Springer Computational Intelligence in Analog and Mixed-Signal (AMS) and Radio-Frequency (RF) Circuit Design (Englisch, Softcover, Esteban Tlelo-Cuautle, Mourad Fakhfakh, Patrick Siarry) (55855471)
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan, Fachbücher von Adam OsseiranDas Buch "Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan" bietet eine umfassende Analyse und Erweiterung des IEEE Standards 1149.4, der für die Testbarkeit von gemischten analogen und digitalen Schaltungen von Bedeutung ist. Herausgegeben von Adam Osseiran, enthält es nicht nur den Standard selbst, sondern auch die Perspektiven und Überlegungen der Entwickler, die an der Entstehung des Standards beteiligt waren. Die Beiträge von Experten wie Brian Wilkins, Colin Maunder und anderen bieten einen tiefen Einblick in die Herausforderungen und Lösungen im Bereich der Testbarkeit von Systemen. Das Buch ist so strukturiert, dass es die Vielfalt der Ausdrucksweisen der Autoren bewahrt, was dem Leser eine abwechslungsreiche Lektüre ermöglicht. Es wird betont, dass die Testbarkeit eines Systems nicht nur von den einzelnen Komponenten abhängt, sondern auch von der Art und Weise, wie diese Komponenten organisiert sind. Dies macht das Buch zu einer wertvollen Ressource für Fachleute, die sich mit der Entwicklung und dem Testen von gemischten Signalarchitekturen beschäftigen.160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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